點云分析中的最高性能

Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點云。

Metrolog X4 集成了高效光學(xué)測量功能所需的最新技術(shù)，可確保無論使用哪種設(shè)備都能獲得最佳的結(jié)果。

使用CAD（彩圖分布）進(jìn)行云比較。

元素提取和自動GD＆T。

直觀的間隙和面差。

測量并補(bǔ)償材料厚度。

根據(jù)表面積估算零件質(zhì)量（面積計算）。

增強(qiáng)的界面可為最終用戶帶來流暢的體驗

可以根據(jù)操作員的習(xí)慣、設(shè)備類型和測量方法完全自定義用戶界面。

全新的手動采點助手。

采集過程中自動查看方向。

多個信息窗口（位置和結(jié)果）。

隨時可切換的19種語言系統(tǒng)。

讓復(fù)雜的GD&T分析簡單化

Metrolog X4 具有新的幾何和尺寸公差處理引擎，可在既定時間內(nèi)處理最復(fù)雜的情況。

簡化了幾何公差定義。

“專家”級系統(tǒng)，確保了正確的評估方法和結(jié)果。

全面支持符合給定標(biāo)準(zhǔn)的公差評估。

支持ANSI和ISO標(biāo)準(zhǔn)。

檢測結(jié)果得到PTB和NIST組織的認(rèn)證和認(rèn)可。

PolyWorks | Inspector

PolyWorks | Inspector以功能強(qiáng)大且穩(wěn)定的直接硬件接口而聞名，它提供—套廣泛的指導(dǎo)技術(shù)，全球最大的工業(yè)制造企業(yè)相信它能夠為便攜式測量設(shè)備提供高效、 精確和可重復(fù)的測量流程。